Вимірювальний мікроскоп HITEC QZW 1 250 x 170 мм

HITEC Messtechnik Messmikroskop QZW 1 M3 Software

Ми пропонуємо висококласний вимірювальний мікроскоп QZW 1 від HITEC, тип 250 x 170 мм.

Програмне забезпечення M3: автоматичне розпізнавання країв, перевірка допусків згідно DIN/ISO, перегляд елементів із введенням допусків, перегляд деталей із розмірами, відображення зображення в реальному часі під час вимірювання, додаткове збереження зображень для Вашої документації.

Dell Touch PC з Windows 10 (можливе оновлення до 11).
Сертифікат калібрування до 31.07.2025.

Діапазон вимірювання по осях X, Y: 250 x 170 мм
Похибка вимірювання довжини: 1,9 μm + L/100 (L у мм)
Діапазон вимірювання по осі Z: 150 мм
Вимірювальна система по осі Z: опційно
Камера: USB 3.0, 25 кадрів/с, 2,0 мегапікселя
Об'єктив: фіксований об'єктив / опційно зум-об'єктив 0,7x - 4,5x (ручний/моторизований)
Збільшення: 40x або 35x – 225x (зум-об'єктив)
Поле зору: 8 мм або 9 мм – 1,5 мм (зум-об'єктив)
Підсвітка: 4-сегментне світлодіодне кільцеве підсвічування (опційно коаксіальна підсвітка)
Просвітне освітлення: LED (опційно телецентричне)
Лазерний вказівник для позиціонування
Максимальне навантаження на стіл: 20 кг

Комплектація: QZW1, 23" сенсорний ПК, програмне забезпечення M3, сертифікат калібрування, інструкція з експлуатації

Застосування:

Fsdexwb Hqopfx Ad Tjpp
Лінійка QZW1 забезпечує високоточні повторювані вимірювання складних деталей з будь-яких матеріалів. Завдяки великій кількості опцій, таких як зум-об'єктив, різні довжини осі Z та варіанти розмірів вимірювальних столів, QZW1 пропонує всі можливості для задоволення Ваших специфічних вимірювальних потреб.

Оголошення було перекладено автоматично. Можливі помилки перекладу.