Компонент

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Рік виготовлення: 2025, Стан: новий, Рентгенівська система інспекції для середніх упаковок та пакетів. Підходить для виявлення сторонніх тіл з металу, скла, каменю, пластику тощо у харчових продуктах або нехарчових виробах. - Характеристики: • Ширина конвеєрної стрічки: 410 мм • Точність виявлення: Pb від Ø 0,2 мм, Fe від Ø 0,28 мм, SUS від Ø 0,28 мм, неметалевих (камінь, скло) від Ø 1,2 мм • Потужність рентгенівських променів: 80 кВп, 1,25 мА • Роздільна здатність детектора: 0,4 мм • Випромінювання рентгену: < 1 мкЗв/год • Висота конвеєра: 850 ± 30 мм • Швидкість конвеєра (залежно від продукту): 10 – 100 м/хв Knedpfev Nm Inox Ahyof • Інтерфейс: 15" сенсорний екран • Програмне забезпечення: intellisens®X-ray • Робоча температура: 5 – 35 °C • Відвід системи: доступний опційно відповідно до вимог • Живлення: 220 В AC, 50/60Гц • Розміри: Д900xШ920xВ1825 мм • Вага: 350 кг Зверніть увагу, що наші ціни на нове обладнання часто нижчі за звичайні ціни вживаних систем. Звертайтесь із вашим запитом та опишіть задачу по пакуванню! Зазвичай на складі є 30-50 різних нових машин у наявності. Для машин, виготовлених під замовлення, дуже короткі строки постачання – від 3 тижнів. Усе обладнання поставляється з повною гарантією.

Стан: Несправний носій запасних частин (вживаний), Oxford Instruments X-Strata 960 Рентгенофлуоресцентний аналізатор – на запчастини / несправний Опис товару: Пропонується до продажу вживаний рентгенофлуоресцентний аналізатор моделі Oxford Instruments X-Strata 960. Пристрій надійшов після демонтажу лабораторії й пропонується виключно як донор для запчастин або для ремонтних цілей. Перевірка працездатності не проводилася – тому прилад вважається несправним у контексті цього продажу. Технічні характеристики – Oxford Instruments X-Strata 960 (орієнтовні) Параметр Опис Модель X-Strata 960 Виробник Oxford Instruments Метод аналізу Рентгенофлуоресцентний аналіз (XRF) Сфери застосування Вимірювання товщини покриттів, матеріалознавство, дослідження дорогоцінних металів Геометрія вимірювання Верхнє або нижнє опромінення (залежно від конфігурації) Джерело випромінювання Рентгенівська трубка (наприклад, анод із родію), потужність 50–100 Вт Детектор Пропорційний лічильник або кремнієвий дрейфовий детектор (SDD), залежно від версії Діапазон вимірювань Товщина шару бл. 0,005 – 50 мкм (залежно від матеріалу) Розмір плями бл. 15 μм – 1 мм (залежно від коліматора) Вісь Z Моторизоване переміщення, вимірювальна висота до бл. 230 мм Робоча камера (Ш × Г × В) бл. 580 × 510 × 230 мм Стіл для зразків Ручний або моторизований (200 × 200 мм або більше, в залежності від оснащення) Система фокусування Оптична / лазерна фокусування, частково автоматизована Операційна система Вбудований промисловий ПК із програмним забезпеченням на базі Windows Живлення 220–240 В / 50–60 Гц / бл. 500–800 Вт Вага приладу бл. 150–200 кг (залежно від комплектації) Стан: вживаний / несправний / на запчастини Комплектація: згідно з фото – без аксесуарів або програмного забезпечення Важлива інформація: Продаж здійснюється виключно як несправного пристрою, без гарантії працездатності. Товар пропонується як донор на запчастини чи для майстрів. Жодної гарантії на функціонування, повноту чи технічні параметри не надається. Комерційний продаж із виключенням будь-якої відповідальності за дефекти згідно § 447 BGB (купівля з відправкою). Комплектація: • Oxford Instruments X-Strata 960 • Усі компоненти, які видно на фотографіях Додаткові частини, аксесуари чи документація не входять у комплект, якщо не зазначено окремо. Knjdpfxehaapfj Ahyef Доставка & самовивіз: Самовивіз можливий і бажаний у м. Боркен Доставка можлива за домовленістю. (Можливі зміни та помилки у технічних даних! Актуальна інформація надається за телефоном.)

Рік виготовлення: 2016, Стан: дуже добре (вживаний), Автоматична рентгенівська інспекція Для контролю BGA-, QFN-, THT-, LED-, LGA- та інших припаяних з'єднань, як видимих, так і прихованих. Інше обладнання: Включає офлайн-станцію та ремонтну станцію Операційна система: Windows 7 Ультра-швидкі CCD-детектори з лінійним скануванням Зона інспекції: 450 мм x 400 мм Захоплення зображення: 2D, 2,5D, 3D (шарувате зображення з плоскою КТ) Knodpfx Ahewpuadeyof Габарити плати: 60–450 x 50–400 мм Роздільна здатність AXI: 6–30 мкм/піксель AOI: Поле зору камери: 42 мм x 42 мм Роздільна здатність: 21 мкм Висота інспекції: від -3 до 7,5 мм Оптика: телецентрична оптика Транспортна висота: 950 мм +/- 25 мм Інтерфейс: SMEMA Автоматичне регулювання ширини

Рік виготовлення: 2016, Стан: готовий до використання (вживаний), Доступна рентгенівська інспекційна система Anritsu у стані, близькому до нового. Рентгенівська потужність: 100 Вт, макс. ширина детекції: 240 мм, макс. висота детекції: 120 мм, швидкість детекції при вазі від 2 кг до 5 кг: 10-60 м/хв, швидкість детекції до 2 кг: 60-90 м/хв, швидкість детекції від 5 кг до 10 кг: 10-40 м/хв. Матеріал корпусу: нержавіюча сталь, вага машини: приблизно 255 кг, напрацювання: менше 50 годин. Машина не має слідів зношування транспортерної стрічки або захисних шторок від випромінювання. Документація в наявності. Можливий огляд на місці. Kedpfx Ajvzr Auehyjnf

Стан: вживаний, PANalytical X’Pert PRO MPD Рентгенівський дифрактометр (XRD) Витяг із сервісного звіту: Прилад: PANalytical X’Pert PRO MPD Дата: 07.07.2021 р. Виконані роботи: - Повторне встановлення та введення в експлуатацію системи - Підключення зовнішніх комунікацій - Фаза прогріву - Повне юстування гониометра та інших компонентів - Проведення технічного обслуговування, включаючи заміну дефектних деталей Використані запасні частини: - L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 Батарея. NI-CD - Вентилятор для X-CELERATOR UNIT - Фільтр, водяний - Мотор PW3050 («Пристрій не тестувався у нас у компанії») X’Pert PRO MPD — це надзвичайно універсальний та потужний рентгенівський дифрактометр (XRD) для структурної характеристики кристалічних матеріалів. Ідеально підходить як для фундаментальних досліджень, так і для рутинних задач у промисловості та університетах. Завдяки модульній конструкції, швидкому детектуванню, температурному та атмосферному контролю відмінно підходить як для стандартних аналізів, так і для складних in-situ експериментів. Важливі особливості: - Можливість різних геометрій вимірювання: - Відбиття у режимі Брагга-Брентано (θ–2θ) - Трансмісійна геометрія для порошків у капілярах - Опційно SAXS (мале кутове розсіяння рентгенівських променів) для наноструктур - Джерело випромінювання та детектори: - Зазвичай мідний анод (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) - Детектор X’Celerator (1D, надшвидкий) для паралельного збору даних - Модульна система з PreFIX-технологією: - Швидка зміна оптики та зразкових столиків без перекалібрування - In-situ вимірювання при високих температурах: - Вимірювання до близько 1200°C - Контрольована атмосфера: повітря, азот, кисень (обмежено відновлювальна) Типові застосування: - Фазовий аналіз і кількісний рітвельдівський аналіз - Визначення розміру кристалітів, мікродеформацій, власних напружень - In-situ-дослідження фазових переходів, окиснення, кристалізації тощо - SAXS-аналіз для наночастинок, пористих структур - Широкий спектр твердих зразків: порошки, плівки, кераміка, фармацевтичні матеріали, каталізатори тощо Технічні характеристики (типові): Властивість і специфікація - Кутовий діапазон: близько 0,5° до 150° - Крок вимірювання до 0,002° або дрібніше - Гониометр: вертикальний, 0–0, радіус близько 240 мм - Діапазон температур: кімнатна – до ≈1200°C Kedpfx Ahswycateyenf - Атмосфера: повітря, N₂, O₂ (обмежено відновлювальна) - Детектори: X’Celerator (1D), пропорційний лічильник Розповсюдження та місця використання: X’Pert PRO MPD експлуатується по всьому світу, зокрема у таких установах: - Університети (ETH Цюрих, TU Дрезден, Віденський університет) - Дослідницькі інститути (наприклад, Max-Planck-Institut, ICN2, IS2M) - Промисловість (наприклад, розробка матеріалів, фармацевтика, хімія) Стан: б/в / used Комплектація: (див. фото) (Зміни та помилки в технічних даних можливі, всі дані без гарантії!) Будемо раді відповісти на додаткові питання телефоном.

Стан: добрий (вживаний), Helmut Fischer Fischerscope рентгенофлуоресцентний пристрій для вимірювання товщини покриттів XDL- XYmZ Knodpfx Ahjw Hbkdeyjf