Лабораторне випробувальне обладнання

Стан: вживаний, Тримачі інструменту типу: HSK-A 100 Інструментальний тримач типу: Wohlhaupter Інструментальний тримач типу: Точні розточувальні головки / Прецизійне точіння Пропонуємо широкий вибір тримачів для інструменту Wohlhaupter HSK-A 100, розточувальних головок, адаптерів та подовжувачів. Nedpfjg Nqlisx Agpoli Списки доступних позицій із цінами надсилаємо за запитом.

Стан: дуже добре (вживаний), Рік виготовлення: 2014, Функціональність: повністю працездатний, діапазон вимірювання по осі X: 1 200 мм, діапазон вимірювання по осі Y: 2 000 мм, діапазон вимірювання осі Z: 1 000 мм, Діапазони вимірювань Ось X – 1200 мм Ось Y – 2000 мм Ось Z – 1000 мм Вимірювальна невизначеність за ISO 10360 E = [2,6 + 4L/1000] мкм ЧПУ керування Renishaw UCC S5 Ручний пульт Renishaw MCU-5, опційно бездротовий MCU-5W Датчики температури Renishaw Вимірювальна система Renishaw REVO-2 зі скануванням по 5 осях Система автоматичної заміни щупів Renishaw (Вартість REVO нової комплектації орієнтовно €80 000) Програмне забезпечення Inspect3D Inca V6, нова ліцензія (всі мови) Nlodpfx Ajdv I Abegpei Рік первинного виробництва – 2014, модернізовано у 2017 та 2025 роках Можливий залік/обмін на інший КІМ

Стан: вживаний, Рік виготовлення: 1999, Керування Siemens 840D Кількість осей: 4 шт. Nlodpfx Asqn A Rvegpsi Палети: 2 Місця для інструментів: 160 Тримач інструмента: HSK 63 Обороти шпинделя: 24 000 об/хв Фільтраційна установка: Так Транспортер стружки: Так, кВт

Стан: вживаний, Рік виготовлення: 2008, Стаття: Вертикальний центр для токарних і шліфувальних робіт Виробник: EMAG Модель: VSC 250 DS Рік випуску: 2008 Система керування: SIEMENS 840D Швидкість обертання шліфувального шпинделя: 30 000 об/хв Швидкість обертання токарного шпинделя: 3 000 об/хв Кількість позицій револьверної головки: 12 Охолоджувачі для охолодження шпинделя та станини Nsdeia Rtdjpfx Agpsli Підйомна станція охолоджувальної рідини (без власної системи подачі) Транспортер стружки Система обробки деталей Повітря через шпиндель Два канали затиску через шпиндель (повітря та масло) На жаль, шліфувальний шпиндель несправний. Однак його можна відновити на шпиндельному заводі. В іншому машина у дуже хорошому стані та повністю працездатна. Зв’яжіться з нами для отримання додаткової інформації та фотографій за адресою mail(at) або

Рік виготовлення: 1995, Стан: дуже добре (вживаний), Технічні дані Виробник: Brown & Sharp Модель: DEA Mistral Рік випуску: 1995 Діапазон вимірювань Nlsdpfxjf Dvzco Agpei X = 1500 мм Y = 1000 мм Z = 900 мм Оснащення Вимірювальна головка Renishaw PH10M Вимірювальна система TP200 з автоматичним магазином на 6 датчиків Програмне забезпечення: PC-DMIS версія 4.2, оновлення 2008 року Персональний комп'ютер (WIN XP), монітор, струменевий принтер, комп'ютерний стіл Можлива модернізація обладнання відповідно до побажань замовника новими аксесуарами. Ціна: за запитом! Можливий монтаж та введення в експлуатацію! З радістю підготуємо для вас детальну комерційну пропозицію. Примітка: Наша пропозиція призначена виключно для професійних клієнтів. (Зміни у технічних даних, інформації, цінах, а також попередній продаж залишаються за нами!)

Стан: вживаний, Spectro Тип: SpectroMaxX LMD08 / LMX08 Дата: 24.07.2020 Повний аналіз за допомогою стаціонарного іскрового спектрометра SpectroMaxX: За допомогою іскрового спектрометра можна з високою точністю визначати вміст легуючих компонентів і супутніх елементів у макроскопічних твердих зразках до рівня ppm. Доступні різні, адаптовані до актуальних сімейств сплавів, методи вимірювання для основних матеріалів: заліза, алюмінію, магнію, міді, нікелю, титану та свинцю. Переваги: Швидкий аналіз протягом кількох секунд Високоточний спектральний аналіз, включаючи C та N Компактне настільне виконання Сфери застосування / призначення: Контроль хімічного складу 31 залізного та кольорового металу, азоту і інших елементів Опис установки: Відкрита іскрова станція для високої пропускної здатності зразків Можливість аналізу різноманітних геометрій зразків Легке перемикання бази Як базові елементи доступні: Al, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, Pb Аналізовані елементи й діапазони концентрацій залежать від доступних для кожного базового елемента методик Використовуваний діапазон довжин хвиль: 170-670 нм Вивід результатів у концентраціях або інтенсивностях Вибір одиниць виміру (% або ppm) Вивід статистичних показників (середнє значення, RSD) SPECTROMAXx LMX08 Технічні характеристики: CCD-оптика: Високороздільні CCD-мультидетектори Стабілізація від коливань температури Ефективний діапазон довжин хвиль: 140-670 нм (фактичний діапазон налаштовується під вимоги клієнта). Автоматизований профайлинг Аналітичні модулі: Вільний вибір аналітичних модулів Оптимізовано під вимоги замовника Можливість дооснащення додатковими модулями на місці Іскрова станція: Відкрита іскрова станція для високої пропускної здатності і різних геометрій зразків Знижене споживання аргону завдяки модулю економії Оптимізований потік аргону Зменшені інтервали очищення Легкозамінна іскрова пластина Температуроабсорбуючий дизайн (без водяного охолодження) Інтегрована система шторки для кращого огляду плазми Система збудження: Повністю цифровий генератор плазми з цифровим визначенням розряду, цифровою генерацією імпульсів та цифровим офлайн-керуванням Мікроконтролер 32 МГц Nlsdju S Ahqopfx Agpoi Максимальна тривалість іскри: 4000 мкс Максимальна потужність іскри: 4 кВт Система індикації: Окремий мікроконтролер для кожного CCD Послідовний інтерфейс джерела Спектрометр: Зовнішній сучасний комп'ютер ПК з операційною системою Windows Клавіатура і миша Моніторинг Програмне забезпечення: Spark Analyzer Pro MAX для аналітичної роботи й калібрування Безперервна автоматична апаратна діагностика у фоновому режимі Автоматична перевірка і ідентифікація сплаву/якості Менеджер результатів Онлайн планувальник обслуговування Умови довкілля: Температура в приміщенні: 10–30°C Умови: (10–30°C) Відносна вологість:

Стан: вживаний, Рік виготовлення: 2006, Технічні деталі: x-хід: 800 мм y-хід: 800 мм z-хід: 800 мм Швидкість обертання: 12 000 об/хв Nlodopumdcjpfx Agpji Конус інструмента: SK 50 Система керування: SIEMENS 840D shopmill Інструментальний магазин: на 240 позицій Розмір палети: 630 x 630 мм Шпиндель: 52 кВт / 430 Нм Загальна потреба в електроенергії: 87 кВА Вага машини, приблизно: 15 т Горизонтальний обробний центр з палетним накопичувачем, ЧПК-поворотний стіл, Двохпозиційний палетозмінник, Внутрішня подача охолоджуючої рідини під тиском 40 бар, Підготовка для інфрачервоного вимірювального щупа Renishaw MP 10 (без самого щупа), Механічний контроль поломки інструмента, Мінімально-мастильна система (MMS), Повітродув через центр шпинделя, Електричний витяг масляного туману, Електронне ручне колесо, Функція TRANSMIT, Пакет підвищеної точності, BA 4, Композитне скло у правих дверях, Включає палетну станцію FASTEMS FPC 1000 на загалом 14 палет, включаючи зону підготовки, автоматичний стелажний кран, головний комп’ютер і 10 палет Близько 98 500 мотогодин при увімкненому головному вимикачі Близько 45 500 мотогодин шпинделя

Стан: дуже добре (вживаний), Тут ми пропонуємо вам скануючий електронний мікроскоп Jeol. Jeol JSM-6490 скануючий електронний мікроскоп (PC-SEM) Сучасний, високороздільний цифровий скануючий електронний мікроскоп з новітньою електронною оптикою та інтуїтивно зрозумілим графічним інтерфейсом користувача (GUI) під управлінням Microsoft WindowsXP Professional. Діапазон збільшень: 5X - 300 000X Прискорююча напруга: 0,3 - 30 кВ Вольфрамова катода з ниткою (LaB6-катода опційно) Великий повністю моторизований зразковий стіл з еуцетричною нахилом, включає: Графічна навігація по тримачу для зразків Проста навігація по зразку через Click-Center-Zoom Навігація по полю зору через 2 навігатори Відносна навігація по координатах Збереження та повернення до позицій зразків Регульована процедура вибору області зразка Корекція поля зору під час обертання за допомогою комп’ютеризованого еуцетричного обертання Nsdpemn Rcqjfx Agpeli Корекція поля зору під час нахилу за допомогою комп’ютеризованого еуцетричного нахилу Розрахунок можливого кута нахилу на основі геометрії зразка Автоматичне відстеження фокуса при переміщенні зразка у напрямку Z Інтелектуальні граничні вимикачі для моторизованих осей Переміщення стола для зразків: x = 125 мм y = 100 мм z = 5 до 80 мм (безступінчасто) T = -10°C до +90°C R = 360° (безкінечно) Детектор вторинних електронів для роботи у вакуумі Інноваційна суперконічна об'єктивна лінза забезпечує найвищу роздільну здатність навіть при великих кутах нахилу Гарантована роздільна здатність на SE-зображенні: 3 нм при 30 кВ і 15 нм при 1 кВ Одночасне відображення живого зображення з декількох детекторів Проста навігація по зразку через Click-Center-Zoom Потужні функції вимірювання зображення Функція запису динамічних процесів (Movie) Багатофункціональна камера для зразків із численними можливостями розширення, наприклад, фланці для EDX, WDX, EBSD, катодолюмінесценції тощо Мінімальний знос і малообслуговувана, тиха насосна система, що складається з попереднього насоса, безвібраційного високопродуктивного дифузійного насоса і електромагнітного керування клапанами Розширений захист від помилкової експлуатації і відмови зовнішніх середовищ Ергономічний, регульований по висоті системний стіл Стартовий REM-набір, що включає 2 тримачі для зразків, набір інструментів і 6 запасних катод Додаткове обладнання 2x ΜΡ-43100 (TMP) Турбомолекулярний насос замість стандартного дифузійного насоса При використанні турбомолекулярного насоса для роботи REM не потрібна охолоджуюча вода. Додаткове оснащення: ПК для керування REM, з TFT-монітором OX200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED Безазотна енергодисперсійна рентгенівська система аналізу, включає: SDD-детектор з енергетичним розділенням 127 еВ або краще Виявлення всіх елементів починаючи з бору Відсутність вібрацій, не потребує технічного обслуговування. Охолодження Пельтьє (без азоту) Процесор імпульсів TFT-монітор Вимірювання спектрів та ідентифікація елементів Повністю автоматичний, кількісний, стандартизований безеталонний аналіз елементів Захват зображення Надшвидкий якісний лінійний скан (LineScan) Надшвидке якісне розподілення елементів (Elementmapping) Система управління та архівування даних Генерація звітів та вивід результатів Данікомунікація Встановлення і навчання HyperMap Мультипунктовий аналіз Детектор Bruker xFlash (SDD) з блоком обробки сигналів SVE III Тип: Jeol JSM-6490 Комплект поставки: (див. фото) Стан: б/в / used (Зміни та помилки в технічних даних та інформації можливі!) Із додатковими питаннями, будь ласка, звер

Стан: вживаний, Рік виготовлення: 2008, відстань переміщення по осі X: 650 мм, відстань переміщення по осі Y: 650 мм, відстань переміщення осі Z: 680 мм, максимальна швидкість шпинделя: 24 000 об/хв, L.-Nr. 5.3-745 1 уживане горизонтальний обробний центр Heckert HEC 400D, рік випуску 2008 Система ЧПУ Sinumerik 840D NC-поворотний стіл, вісь B Магазин на 80 інструментів Система автоматичної заміни палет, 2 палети 400 мм x 400 мм Внутрішня подача охолоджуючої рідини (IKZ) Транспортер стружки Система охолодження Технічні характеристики: Nljdpfxsrairwo Agpei Поздовжній хід по осі X: 650 мм Вертикальний хід по осі Y: 650 мм Поперечний хід по осі Z: 680 мм Вісь B: 360° Конус шпинделя: HSK 63A Діапазон обертів шпинделя: до 24000 об/хв Кількість місць для інструментів: 80 Вага машини прибл.: 13 000 кг Технічні дані, комплектація та опис машини не є обов’язковими до виконання.

Стан: новий, Рік виготовлення: 2018, НОВИЙ ПРИЛАД за спеціальною ціною Дотичний координатно-вимірювальний прилад від Innometrik Вимірювальна область: 1200 x 3000 x 1000 мм Максимальна вага заготовки: 1000 кг Точність MPEE: 2.2 + L / 350 (в мкм) Дискретність масштабу: 0.1 / 0.5 мкм - Повітряні підшипники на всіх осях Лінійна швидкість: 300 мм/с Об’ємна швидкість: 520 мм/с Система датчиків: Renishaw Tp200 з 3 модулями (SF, HF, LF) та 3-позиційною станцією автоматичної заміни датчиків Програмне забезпечення: OptiCheck 4.5 і Virtual DMIS (роздільні розділи); за бажанням клієнта також Polyworks Nodpfedyl H Nex Agpoli -включно з ПК (Windows 7), за бажанням Windows 10 -включно з 2 моніторами -включно з мишею та клавіатурою Фото: аналогічний прилад