Растровий електронний мікроскоп (PC-SEM)

Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor

Тип: Jeol JSM-6490
Jeol JSM-6490 Скануючий електронний мікроскоп (PC-SEM)
Сучасний, високороздільний цифровий скануючий електронний мікроскоп з новітньою електронно-оптичною системою та інтуїтивно зрозумілим графічним інтерфейсом користувача (GUI) під керуванням Microsoft Windows XP Professional.
Комплектація обладнання включає такі характеристики:
Lsdpfxjmn Rcqe Adlori
Діапазон збільшення: 5 X – 300 000 X
Прискорююча напруга: 0,3 – 30 кВ
Катод з вольфрамовою ниткою (LaB6-катод – опційно)
Великий повністю моторизований предметний столик з ексцентричним нахилом, включаючи:
Графічна навігація по тримачу зразків
Зручна навігація по зразку через Click-Center-Zoom
Навігація за зображенням за допомогою 2 навігаторів
Відносна координатна навігація
Збереження та повернення до позицій зразків
Настроюване виділення області перегляду предметного столика
Корекція поля зору під час обертання за допомогою комп’ютерно керованої ексцентричної ротації
Корекція поля зору під час нахилу з використанням комп’ютерно керованої ексцентричної системи нахилу
Розрахунок можливого кута нахилу на основі геометрії зразка
Автоматичне стеження за фокусом при переміщенні зразка по осі Z
Інтелектуальні кінцеві вимикачі для моторизованих осей
Діапазон переміщення предметного столика:
x = 125 мм
y = 100 мм
z = 5–80 мм (плавне регулювання)
T = -10°C до +90°C
R = 360° (безкінечне обертання)
Детектор вторинних електронів для роботи у високому вакуумі
Інноваційна суперкоконічна об’єктивна лінза для найвищої роздільної здатності навіть при великих кутах нахилу
Гарантована роздільна здатність для SE-зображення: 3 нм при 30 кВ і 15 нм при 1 кВ
Одночасний Live-перегляд зображення з декількох детекторів
Зручна навігація по зразку через Click-Center-Zoom
Потужні функції для вимірювання зображень
Функція "Movie" для запису динамічних процесів
Універсальна камера зразків із численними можливостями розширення (вільні фланці, напр. для EDX, WDX, EBSD, катодолюмінесценції тощо)
Обслуговування і використання малошумної, довговічної насосної системи, що складається з попереднього насоса, безвібраційного високопродуктивного дифузійного насоса та електромагнітного клапана
Розширена система захисту від помилкової експлуатації та відмови зовнішніх середовищ
Ергономічний, регульований по висоті системний стіл
Стартовий комплект SEM, що складається з 2 тримачів зразків, набору інструментів та 6 запасних катодів
Додаткове обладнання для скануючого електронного мікроскопа:
Турбомолекулярний насос замість стандартного дифузійного насоса
При використанні турбомолекулярного насоса для роботи SEM охолоджувальна вода більше не потрібна.
Додаткове обладнання SEM:
ПК для керування SEM, включаючи TFT-монітор
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-система EXTENDED
Програмне забезпечення Bruker EDX передається новому власникові після покупки!
Енергетично-дисперсійна рентгенівська система аналізу без використання азоту, включаючи:
SDD-детектор з енергетичним дозволом 127 еВ або кращим
Виявлення всіх елементів, починаючи з бору
Без вібрацій, не вимагає обслуговування. Охолодження Пельтьє (без азоту)
Імпульсний процесор
TFT-монітор
Вимірювання спектрів та ідентифікація елементів
Повністю автоматизований, кількісний, безстандартний елементний аналіз
Отримання зображення
Надшвидке якісне сканування по лінії
Надшвидке якісне елементне картування
Система управління й архівування даних
Генерація звітів та вивід результатів
Обмін даними
Інсталяція і навчання
HyperMap
Багатоточковий аналіз
Детектор Bruker xFlash (SDD) з блоком обробки сигналу SVE

Оголошення було перекладено автоматично. Можливі помилки перекладу.