Малонавантажувальний і мікротвердомір

LECO LM - 100 AT Knoop Vickers

Стан: вживаний, Рік виготовлення: 2008, Функціональність: повністю працездатний, діапазон вимірювання по осі X: 400 мм, діапазон вимірювання по осі Y: 500 мм, діапазон вимірювання осі Z: 300 мм, Visio 500 оптична/тактильна 3D-вимірювальна машина Pgsdpfx Asiyymrofaew Робочий діапазон: 453 (400 X, 500 Y, 300 Z) Вимірювальне програмне забезпечення: PC-DMIS CAD версія 2015 6-позиційний магазин змінних щупів, у комплекті 2 модулі TESASTAR MP Системний блок Silent PC Big Tower з Windows 7 (все встановлено та працездатне) Камера з 200-кратним оптичним зумом, з кільцевим світильником/коаксіальним освітленням і освітленням через об'єкт (діаскопічним) Усе обладнання повністю справне. Вісь Y має незначні подряпини, які були відшліфовані; це не впливає на роботу чи точність.

Стан: вживаний, Рік виготовлення: 2014, DMC DL 80V, вертикальний токарний верстат з ЧПУ Рік випуску: 2014 Діаметр обробки: 800 мм Довжина обробки: 750 мм Шпиндель: 30 кВт, 2000 об/хв 12-позиційний револьвер Патрон 21" Система керування Fanuc Oi-Td Вага верстата: 9800 кг Psdpfx Afsvr Ecpsaogw У комплекті зі стружко-транспортером та стандартним приладдям

Стан: новий, Рік виготовлення: 2023, Функціональність: повністю працездатний, відстань переміщення по осі X: 3 000 мм, відстань переміщення по осі Y: 2 500 мм, відстань переміщення осі Z: 760 мм, швидкий хід по осі X: 20 м/хв, швидке переміщення по осі Y: 15 м/хв, швидкий хід по осі Z: 15 м/хв, максимальна вага заготовки: 12 000 кг, загальна висота: 48 500 мм, загальна довжина: 85 800 мм, загальна ширина: 56 000 мм, ширина столу: 2 400 мм, довжина столу: 3 020 мм, загальна вага: 20 кг, швидкість шпинделя (хв.): 10 об/хв, максимальна швидкість шпинделя: 6 000 об/хв, відстань від центру столу до носика шпинделя: 960 мм, шпиндельний ніс: ISO 50, довжина інструмента: 350 мм, діаметр інструмента: 127 мм, Обладнання: документація / посібник, обертальна швидкість безступінчасто регульована, Вертикальний портальний обробний центр "AWEA LP-3025" Pgedpfx Aorl Svrsfaow

Стан: дуже добре (вживаний), Рік виготовлення: 1988, Товщина дроту: 0,1 – 1,3 мм Psdpfe Syv Tox Afajgw Довжина відрізу: 5 – 70 мм Продуктивність: до 400 відрізів/хв у комплекті з холодильним агрегатом та приводною котушкою для дроту

Стан: дуже добре (вживаний), ZEISS Тип: DSM 962 Оцифрований растровий електронний мікроскоп DSM 962 — це прилад, оснащений інтегрованою пам’яттю для зберігання зображень обсягом 4 МБ, внутрішнім жорстким диском 40 МБ для зберігання зображень, а також приводами для зовнішнього збереження даних та зображень. Це дає змогу швидко і просто отримати інформацію про склад та морфологію поверхонь зразків аж до субмікрометрової області. Завдяки діапазону збільшень від 5-кратного до 300 000-кратного можливе дослідження як макроструктур, так і мікроструктур.  Спеціальні додаткові модулі суттєво розширюють сферу застосування приладу, зокрема дозволяють проводити аналітичні дослідження в мікрообластях поверхні. Керування приладом може здійснюватися як за допомогою традиційних перемикачів, так і клавіатури чи миші (додатково). Електронна оптика та вакуумне керування — традиційні. Функції пам’яті зображень керуються за допомогою клавіатури або миші (додатково). На центральній панелі керування знаходиться окремий інформаційний екран для відображення меню. Ця інструкція з експлуатації призначена для ознайомлення користувача з пристроєм і для досягнення найкращих результатів. Опис зроблено максимально простим для розуміння користувачів без досвіду. Діапазон збільшення: від 20x до 300 000x за робочої відстані 7 мм Кроки: 1-2-3-5-10 Мінімальне збільшення: 5x за робочої відстані 50 мм Роздільна здатність: Pedsfcwwnjpfx Afaegw 4 нм — гарантовано з вольфрамовим катодом при 30 кВ, робоча відстань 6 мм, зразок не нахилений 25 нм — гарантовано з вольфрамовим катодом при 1 кВ, робоча відстань 6 мм, зразок не нахилений 3,5 нм — гарантовано з оптимальним катодом LaB6 при 30 кВ, робоча відстань 6 мм, зразок не нахилений Комплектація: (DSM 962 з аксесуарами, як показано на фото) Стан: бувший у використанні / used (Техническі характеристики і дані можуть бути змінені або містити помилки!) Перед покупкою уточнюйте варіанти транспортування. На додаткові питання із задоволенням відповімо по телефону.

Стан: добрий (вживаний), номер машини/транспортного засобу: RTT HAU T3, Вживаний автоматичний полірувальний верстат з поворотним столом Pgodpjh Ug Ulsfx Afajw Виробник: Hau Поворотний стіл із 6 робочими шпинделями та 3 полірувальними станціями з високонапірними пістолетами, двигуни 5,5 кВт, шафа управління

Стан: капітально відремонтований (вживаний), номер машини/транспортного засобу: 1500/R, Вантажний пристрій з випробувальними навантаженнями 1-187,5 кг - Бринелль: 15,625 / 31,25 / 62,5 / 187,5 - Роквелл: HRA / HRB / HRC Pgededb E Tfopfx Afajw Комплектація: - твердомір - матове скло - лінза Френеля - вертикальний освітлювач - гвинтова шпиндельна подача - освітлювальний пристрій - об'єктив 70x - блок оцінки результатів - тримач кульки з кулею Ø2,5 мм (Бринелль) - алмазний конус 120° (Роквелл) - плоский випробувальний стіл Ø80 мм - призматична опора Ø80 мм - електричний кабель Опціонально: - програмне забезпечення BVMS (див. 3-rath.de)

Стан: дуже добре (вживаний), Тут ми пропонуємо вам скануючий електронний мікроскоп Jeol. Jeol JSM-6490 скануючий електронний мікроскоп (PC-SEM) Сучасний, високороздільний цифровий скануючий електронний мікроскоп з новітньою електронною оптикою та інтуїтивно зрозумілим графічним інтерфейсом користувача (GUI) під управлінням Microsoft WindowsXP Professional. Діапазон збільшень: 5X - 300 000X Прискорююча напруга: 0,3 - 30 кВ Вольфрамова катода з ниткою (LaB6-катода опційно) Великий повністю моторизований зразковий стіл з еуцетричною нахилом, включає: Графічна навігація по тримачу для зразків Проста навігація по зразку через Click-Center-Zoom Навігація по полю зору через 2 навігатори Відносна навігація по координатах Збереження та повернення до позицій зразків Регульована процедура вибору області зразка Корекція поля зору під час обертання за допомогою комп’ютеризованого еуцетричного обертання Корекція поля зору під час нахилу за допомогою комп’ютеризованого еуцетричного нахилу Розрахунок можливого кута нахилу на основі геометрії зразка Автоматичне відстеження фокуса при переміщенні зразка у напрямку Z Інтелектуальні граничні вимикачі для моторизованих осей Переміщення стола для зразків: x = 125 мм y = 100 мм z = 5 до 80 мм (безступінчасто) T = -10°C до +90°C R = 360° (безкінечно) Детектор вторинних електронів для роботи у вакуумі Інноваційна суперконічна об'єктивна лінза забезпечує найвищу роздільну здатність навіть при великих кутах нахилу Гарантована роздільна здатність на SE-зображенні: 3 нм при 30 кВ і 15 нм при 1 кВ Одночасне відображення живого зображення з декількох детекторів Проста навігація по зразку через Click-Center-Zoom Потужні функції вимірювання зображення Функція запису динамічних процесів (Movie) Багатофункціональна камера для зразків із численними можливостями розширення, наприклад, фланці для EDX, WDX, EBSD, катодолюмінесценції тощо Мінімальний знос і малообслуговувана, тиха насосна система, що складається з попереднього насоса, безвібраційного високопродуктивного дифузійного насоса і електромагнітного керування клапанами Розширений захист від помилкової експлуатації і відмови зовнішніх середовищ Ергономічний, регульований по висоті системний стіл Стартовий REM-набір, що включає 2 тримачі для зразків, набір інструментів і 6 запасних катод Додаткове обладнання 2x ΜΡ-43100 (TMP) Турбомолекулярний насос замість стандартного дифузійного насоса При використанні турбомолекулярного насоса для роботи REM не потрібна охолоджуюча вода. Додаткове оснащення: ПК для керування REM, з TFT-монітором OX200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED Безазотна енергодисперсійна рентгенівська система аналізу, включає: SDD-детектор з енергетичним розділенням 127 еВ або краще Виявлення всіх елементів починаючи з бору Відсутність вібрацій, не потребує технічного обслуговування. Охолодження Пельтьє (без азоту) Процесор імпульсів TFT-монітор Вимірювання спектрів та ідентифікація елементів Повністю автоматичний, кількісний, стандартизований безеталонний аналіз елементів Захват зображення Надшвидкий якісний лінійний скан (LineScan) Надшвидке якісне розподілення елементів (Elementmapping) Система управління та архівування даних Генерація звітів та вивід результатів Данікомунікація Встановлення і навчання HyperMap Мультипунктовий аналіз Детектор Bruker xFlash (SDD) з блоком обробки сигналів SVE III Тип: Jeol JSM-6490 Комплект поставки: (див. фото) Pgsdsmn Rcqjpfx Afajw Стан: б/в / used (Зміни та помилки в технічних даних та інформації можливі!) Із додатковими питаннями, будь ласка, звер

Стан: капітально відремонтований (вживаний), Діапазони вимірювання X/Y/Z = 900 x 1200 x 850 мм Невизначеність вимірювання: 4,0 + 4,5L/1000 (у оригінальному стані, після модернізації значно покращена) Повністю модернізовано у 2018 році з контролером Pantec Eagle Pro Вимірювальна головка Renishaw PH10MQ зі сканером SP25M Повністю нове програмне забезпечення Inca Premium (інше — за запитом) Комп’ютер HP Workstation Опційно: Лазерний сканер (наприклад, Kreon) Podpfx Afjdpak Reaogw Змінник щупів Обертальний стіл тощо.

Стан: вживаний, Технічні дані Pgsdpfx Aoddtufefasw Виробник: Leitz Макс. вага заготовки: 1400 кг aвтоматична зміна щупів Максимально допустимі відхилення вимірювання згідно з DIN EN ISO 10360: MPEE=0,8µm+2,5µm/m